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發(fā)布時間:2015/2/9
點擊次數(shù):1402
方塊電阻測試儀/方塊電阻測定儀/四探針方塊電阻測試儀 型號:DP-XX-2
DP-XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新代產(chǎn)品,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻
特點:
1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要分,測量準(zhǔn)確穩(wěn)定。
2、以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰
3、采用單個電池供電,帶電池欠壓示
4、體積≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g
5、可配臺式探頭和特制之手握式探頭,對應(yīng)可采用臺式和手握式操作,使用簡易
6、帶探頭與被測物質(zhì)接觸良好示(LED)
7、單電源開關(guān),推拉式探頭-主機接插件,操作其簡便。
標(biāo)
測量范圍:基本量程:方塊電阻 1.00-199.99(Ω/口)
擴展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(Ω/口)
測量不確定度≤5%
探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;緣電阻≥500 MΩ
手握式探筆長度:約150mm或90mm;電纜聯(lián)線長度:約1.5M